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                  原子力顯微鏡使用的注意事項

                  發布時間:2022-06-14      點擊次數:212
                  原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy,AFM),是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件(探針)之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。 
                   
                  AFM可以對樣品表面形態、納米結構、鏈構象等方面進行研究,獲得納米顆粒尺寸,孔徑,材料表面粗糙度,材料表面缺陷等信息,同時還能做表面結構形貌跟蹤(隨時間,溫度等條件變化)。也可對樣品的形貌進行豐富的三維模擬顯示,使圖像更適合于人的直觀視覺。結合儀器的各種標準操作模式以及附件,可在進行高分辨成像的同時,獲得包括樣品力學、電學、磁學、熱力學等各項性能指標。 
                   
                  原子力顯微鏡使用的注意事項:
                   
                  ①粉末/液體樣品請備注好制樣條件,包括分散液、超聲時間及配制濃度;
                  ②測試壓電、表面電勢的材料需要將樣品制備在導電基底上,基底大小>0.5*0.5cm;
                  ③PFM、KPFM測試需要樣品表面十分平整,粉末測試很難測到較好結果,下單前請確保風險可接受;
                  ④塊狀樣品需要固定好,避免在寄送過程產生晃動或摩擦影響測試結果;
                  ⑤超聲不超過20min,如需長時間超聲,需要自己超聲好以后給我們,但是長時間超聲后,對樣品的影響會比較大,需自行承擔測試風險;
                  ⑥常規測試項目每樣提供2~3張圖片,特殊測試項目每樣提供1~2張圖片,力曲線每樣測試3~5條。
                  上海曼戈斐光學技術有限公司
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